Products line

miniSIMS

secondary ion mass spectrometry (SIMs)
เครื่องวิเคราะห์ปริมาณธาตุด้วยมวลไอออนทุติยะภูมิ

เครื่องวิเคราะห์ผิววัสดุจากมวลไอออนทุติยภูมิมีความสามารถโดยทั่วไปในการวิเคราะห์ฟิล์มบางและ พื้นผิวของชิ้นงานดังนี้

1. สามารถใช้ในการวัดธาตุทุกชนิด

2. สามารถแยกแยะไอโซโทปของธาตุได้

3. สามารถวิเคราะห์ธาตุหรือโมเลกุลทั้งสารอินทรีย์และสารอนินทรีย์ที่พอกพูนหรือเคลือบบนผิวชิ้นงานได้